SEM和DLS:粒径测定方法的精度比较及应用场景184


在纳米材料、胶体化学、生物医药等领域,精确测定粒径大小至关重要。动态光散射法(Dynamic Light Scattering, DLS)和沉降-椭圆偏振光谱法(Sedimentation-Ellipsometry, SEM)是两种常用的粒径测量技术,它们各自具有独特的优势和局限性。许多研究者常常会问:SEM和DLS哪个更准?其实,这个问题没有绝对的答案,因为两种方法的“精度”取决于多种因素,包括样品特性、仪器设备和测量条件等。本文将深入探讨SEM和DLS的原理、适用范围、精度影响因素以及如何选择合适的测量方法。

一、DLS动态光散射法

DLS是一种基于布朗运动原理的粒径测量技术。当激光照射到分散在溶液中的颗粒时,颗粒会发生布朗运动,导致散射光的强度发生波动。通过对散射光强度波动进行自相关函数分析,可以计算出颗粒的扩散系数,进而根据斯托克斯-爱因斯坦方程计算出颗粒的流体力学直径(Hydrodynamic diameter)。

DLS的优势:
操作简单快捷: DLS测试过程相对简便,无需复杂的样品制备。
样品用量少: 通常只需要少量样品即可进行测量。
适用范围广: 可用于测量各种类型的颗粒,包括球形、非球形颗粒,以及溶液中的蛋白质、聚合物等。
测量范围较宽: 可测量纳米到微米尺度的颗粒。

DLS的局限性:
对样品浓度敏感:过高或过低的浓度都会影响测量结果的准确性。高浓度下颗粒间相互作用会影响布朗运动,而低浓度下散射光信号过弱,信噪比低。
测量的是流体力学直径: 流体力学直径包括颗粒本身的大小以及其周围溶剂化层的大小,这与颗粒的实际大小可能存在差异。
对多峰分布样品的分辨率有限: 对于多分散性样品,DLS难以准确区分不同大小的颗粒。
容易受到样品多重散射的影响: 如果样品浓度过高,散射光会发生多重散射,影响测量结果的准确性。


二、SEM沉降-椭圆偏振光谱法

SEM 是一种结合了沉降技术和椭圆偏振光谱技术的粒径测量方法。它利用离心力使颗粒沉降,并通过椭圆偏振光谱技术测量沉降过程中颗粒的散射光强度变化。通过分析散射光强度的变化,可以获得颗粒的尺寸分布信息。不同的SEM技术手段存在差异,例如在沉降池中,部分采用光学检测,部分采用其他手段,例如阻抗等等。

SEM的优势:
可直接测量颗粒的实际尺寸: 不像DLS测量流体力学直径,SEM可以提供颗粒的实际尺寸信息。
对多峰分布样品的分辨率较高: SEM能够更好地分辨不同大小的颗粒。
不受多重散射的影响: SEM技术在设计上减少了多重散射的影响。
可以测量形状不规则的颗粒:部分SEM技术能提供粒径及形貌信息。

SEM的局限性:
操作复杂: SEM的样品制备和测试过程相对复杂。
样品用量相对较大: 与DLS相比,SEM通常需要更多样品。
测量时间较长: SEM的测量时间通常较长。
对样品密度和形状有要求:部分SEM技术要求样品有一定的密度,并且对形状不规则的颗粒测量精度较低。
成本较高:SEM设备的成本通常高于DLS设备。


三、SEM和DLS的精度比较及应用场景选择

总而言之,SEM和DLS的“精度”取决于多种因素,没有绝对的优劣之分。DLS更适合快速、简便地测量单分散性样品的平均粒径,尤其适用于纳米颗粒的快速筛选和表征。而SEM则更适合测量多分散性样品,以及需要获得颗粒实际尺寸和形状信息的场合,例如对药物制剂的质量控制。

选择哪种方法取决于具体的应用需求。如果需要快速、简便地获得样品的平均粒径信息,DLS是理想的选择。如果需要更准确的粒径分布信息,特别是对于多分散性样品,或者需要获得颗粒的实际尺寸信息,则应该选择SEM。在实际应用中,有时甚至可以将两种方法结合起来使用,以获得更全面、更准确的粒径信息。

最后,需要注意的是,无论选择哪种方法,都必须进行严格的样品制备和操作,并对测量结果进行仔细的分析和判断,才能获得可靠的粒径测量结果。

2025-04-08


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